絕緣電阻功能多變頻介質(zhì)損耗測試儀產(chǎn)品特征一、使用說明
1.1、主菜單
打開電源開關(guān)，進入主菜單（如圖5—1）；選擇界面右邊相應的測試選項進行測量。
※ 注：儀器啟動測試后，緊急情況若停止，只能按緊急停機，不要按復位。
1.2、一般測試
首先根據(jù)相應的接線提示接好儀器外部與被試品之間的連線，然后點擊主界面“一般測試”選項，進入下上等一般測試菜單（如圖5—2）。然后可以點擊“參數(shù)設(shè)置”進去設(shè)置菜單（如圖5—3）進行詳細的測試參數(shù)設(shè)置。
分別點擊每個需要設(shè)置的項目，按“增加”“減小”或“選擇”來修改。修改完成后點擊“保存”即可保存剛才所修改的參數(shù)并返回一般測試界面，點擊“取消”則不保存本次修改并返回一般測試界面。
相關(guān)參數(shù)設(shè)置好了后長按“啟動測試”單，進入測試菜單。測試過程中電壓值一項是根據(jù)先前所選擇的測試電壓平滑上升至設(shè)置值后保持不變，然后自動開始測試。開始測試后根據(jù)先前所選擇的測試頻率自動變頻到各相應的頻率進行測試，測試完成后自動顯示測試結(jié)果（如圖5—4）；測試結(jié)果自動保存，可點擊“打印”按鈕打印本次測試結(jié)果。
注 意：每一種測試的具體參數(shù)設(shè)置和接線方法請查看第六章“參考接線” 。
絕緣電阻功能多變頻介質(zhì)損耗測試儀產(chǎn)品特征1.3、CVT測試
首先根據(jù)相應的接線提示接好儀器外部的連線，然后點擊主界面“CVT測試”選項，進入下上等CVT測試菜單（如圖5—5）。然后可以點擊“參數(shù)設(shè)置”進去設(shè)置菜單（如圖5—6）進行詳細的測試參數(shù)設(shè)置。分別點擊每個需要設(shè)置的項目，按“增加”“減小”或“選擇”來修改。修改完成后點擊“保存”即可保存剛才所修改的參數(shù)并返回CVT測試界面，點擊“取消”則不保存本次修改并返回CVT測試界面。
相關(guān)參數(shù)設(shè)置好了后長按“啟動測試”單，進入測試菜單（如圖5—7）。測試過程中電壓值一項是根據(jù)先前所選擇的測試電壓平滑至設(shè)置值后保持不變，然后自動開始測試。開始測試后根據(jù)先前所選擇的干擾頻率自動變頻到相應的頻率進行測試，測試完成后自動顯示測試結(jié)果（如圖5—8）。測試結(jié)果自動保存，可點擊“打印”按鈕打印本次測試結(jié)果。
注 意：每一種測試的具體參數(shù)設(shè)置和接線方法請查看第六章“參考接線” 。
絕緣電阻功能多變頻介質(zhì)損耗測試儀產(chǎn)品特征1.4、CVT變比測試
首先根據(jù)相應的接線提示接好儀器外部的連線， 進入CVT測試菜單在參數(shù)設(shè)置中選擇“CVT變比測試”，然后返回開始測試界面（如圖5—9），長按“啟動測試”開始測量（如圖5—10），測試完成后自動顯示測試結(jié)果（如圖5—11）。測試結(jié)果自動保存，可點擊“打印”按鈕打印本次測試結(jié)果。
絕緣電阻功能多變頻介質(zhì)損耗測試儀產(chǎn)品特征1.5、正反同測
首先根據(jù)相應的接線提示接好儀器外部的連線， 進入正反同測菜單，在參數(shù)設(shè)置中選擇設(shè)置需要測試的高壓電壓，然后保存返回（如圖5—12），長按“啟動測試”開始測量，測試完成后自動顯示測試結(jié)果（如圖5—13）。測試結(jié)果自動保存，可點擊“打印”按鈕打印本次測試結(jié)果。
1.6、LCR測試
首先根據(jù)相應的接線提示接好儀器外部與被試品之間的連線，按照【正接法（常規(guī)接線）】或者【反接法（常規(guī)接線）】然后點擊主界面“LCR測試”選項，進入下上等LCR測試菜單。
然后可以點擊“參數(shù)設(shè)置”進去設(shè)置菜單進行詳細的測試參數(shù)設(shè)置。分別點擊每個需要設(shè)置的項目，按“增加”“減小”或“選擇”來修改。修改完成后點擊“保存”即可保存剛才所修改的參數(shù)并返回一般測試界面，點擊“取消”則不保存本次修改并返回一般測試界面。長按“啟動測試”開始測量，測試完成后自動顯示測試結(jié)果（如圖5—14）。測試結(jié)果自動保存，可點擊“打印”按鈕打印本次測試結(jié)果。
絕緣電阻功能多變頻介質(zhì)損耗測試儀產(chǎn)品特征1.7、絕緣測試
首先根據(jù)相應的接線提示接好儀器外部與被試品之間的連線，然后點擊主界面“絕緣測試”選項，進入下上等絕緣測試菜單。然后可選擇測試方式為正接法或反接法，選擇合適的測試電壓。設(shè)置好相關(guān)參數(shù)之后即可點擊下方“極化指數(shù)”“吸收比”“絕緣電阻”進行測試。
1.8、數(shù)據(jù)查詢
在主菜單點擊“數(shù)據(jù)管理”進入數(shù)據(jù)管理界面（如圖5—16），點擊“數(shù)據(jù)查詢”進入。進入數(shù)據(jù)存放菜單（如圖5—17）后，按上、下鍵移動光標至想要查看的數(shù)據(jù)項目上，（儀器所保存的數(shù)據(jù)均是按照測量時間的先后所排列的，第000個數(shù)據(jù)即*新數(shù)據(jù)，第199個數(shù)據(jù)即*老數(shù)據(jù)。）再點擊相應的數(shù)據(jù)，進入數(shù)據(jù)打印項目，在此菜單里面可以按上，下鍵翻頁至相應的數(shù)據(jù)序號上，可對數(shù)據(jù)進行打印操作。
1.9、參數(shù)設(shè)置
打開儀器后直接點擊“參數(shù)設(shè)置”進入時間設(shè)置界面。進入時間菜單（如圖5—18）后，點擊想要修改的時間數(shù)據(jù)項目上，然后再按增加、減小鍵調(diào)整相應的“時” 、“分” 、“秒” ，*后點擊保存修改時間設(shè)置，點擊取消退出設(shè)置并返回主界面。
※ 注：
所有圖片并非實物的全部描敘，請以實際儀器界面為主，僅做參考。
所有步驟在設(shè)置不當或想再次改變的情況下，均可按取消鍵返回上一步驟，如果按取消鍵不能實現(xiàn)返回。則可以直接按復位鍵退到主菜單重新開始設(shè)置。
二、參考接線
（具體請參閱相關(guān)規(guī)程）
1、正接法
1、內(nèi)電壓—內(nèi)標準—正接法（電容常規(guī)接線）
2、內(nèi)電壓—正接法（絕緣電阻接線）
3、內(nèi)電壓—外標準—正接法（必須先設(shè)置好外接標準容量）
4、外電壓—內(nèi)標準—正接法
5、外電壓—外標準—正接法（必須先設(shè)置好外標準容量）
2、反接法
1、內(nèi)電壓—內(nèi)標準—反接法（常規(guī)接線）
2、內(nèi)電壓—外標準—反接法（必須先設(shè)置好外標準容量）
3、外電壓—內(nèi)標準—反接法
4、外電壓—外標準—反接法（必須先設(shè)置好外標準容量）
3、CVT測試(注意：CVT測試時高壓線應懸空不能接觸地面，否則其對地附加介損會引起誤差。)
1、CVT同時測試
（一次完成測試）
2、CVT分別測試
（普通測試）
3、不拆高壓引線測試CVT電容值和介損測量模式：CVT自激法。電壓≤ 2kV
4、反接屏蔽法測量CVT上端C0的電容值和介損測量模式：反接法。電壓≤2kV
4、CVT變比測試
5、正反同測
三繞組變壓器CHG+CHL（高壓線屏蔽接T繞組）
三繞組變壓器CLG+CLT（高壓線屏蔽接HV繞組）
三繞組變壓器CTG+CHT（高壓線屏蔽接LV繞組）
產(chǎn)品特征
1、超大液晶中文顯示
操作簡單，儀器配備了優(yōu)異的全觸摸液晶顯示屏，超大全觸摸操作界面，每過程都非常清晰明了，操作人員不需要額外的專業(yè)培訓就能使用。輕輕點擊一下就能完成整個過程的測量，是目前非常理想的智能型介損測量設(shè)備。
2、海量存儲數(shù)據(jù) 儀器內(nèi)部配備有日歷芯片和大容量存儲器，保存數(shù)據(jù)200組，能將檢測結(jié)果按時間順序保存，隨時可以查看歷史記錄，并可以打印輸出。
3、科學先進的數(shù)據(jù)管理 儀器數(shù)據(jù)可以通過U盤導出，可在任意一臺PC機上通過我公司專用軟件，查看和管理數(shù)據(jù)。
4、多種測試模式 儀器能夠分別使用內(nèi)高壓、外高壓、內(nèi)標準、外標準、正接法、反接法、自激法等多種方式測試；在外標準外高壓情況下可以做高電壓（大于10kV）介質(zhì)損耗。
5、CVT測試一步到位 該儀器還可以測試全密封的CVT（電容式電壓互感器）C1、C2的介損和電容量，實現(xiàn)了C1、C2的同時測試。該儀器還可以測試CVT變比和電壓角差。
6、不拆高壓引線測量CVT 儀器可在不拆除CVT高壓引線的情況下正確測量CVT的介質(zhì)損耗值和電容值。
7、CVT反接屏蔽法測量C0 儀器可采用反接屏蔽法測量CVT上端C0的介質(zhì)損耗值和電容值。
8、高速采樣信號 儀器內(nèi)部的逆變器和采樣電路全部由數(shù)字化控制，輸出電壓連續(xù)可調(diào)。
9、LCR全自動測量 全自動電感、電容、電阻測量，角度顯示。
10、多重保護**可靠 儀器具備輸入電壓波動、高壓電流、輸出短路、電源故障、過壓、過流、溫度等多重保護措施，保證了儀器**、可靠。儀器還具備設(shè)置接地檢測功能，確保不接地設(shè)備不允許升壓。