絕緣電阻功能變頻介質(zhì)損耗測量裝置測量前準(zhǔn)備，操作規(guī)范一、使用說明

1.1、主菜單

打開電源開關(guān)，進(jìn)入主菜單（如圖5—1）；選擇界面右邊相應(yīng)的測試選項(xiàng)進(jìn)行測量。

※ 注：  儀器啟動(dòng)測試后，緊急情況若停止，只能按緊急停機(jī)，不要按復(fù)位。

1.2、一般測試

首先根據(jù)相應(yīng)的接線提示接好儀器外部與被試品之間的連線，然后點(diǎn)擊主界面“一般測試”選項(xiàng)，進(jìn)入下上等一般測試菜單（如圖5—2）。然后可以點(diǎn)擊“參數(shù)設(shè)置”進(jìn)去設(shè)置菜單（如圖5—3）進(jìn)行詳細(xì)的測試參數(shù)設(shè)置。

分別點(diǎn)擊每個(gè)需要設(shè)置的項(xiàng)目，按“增加”“減小”或“選擇”來修改。修改完成后點(diǎn)擊“保存”即可保存剛才所修改的參數(shù)并返回一般測試界面，點(diǎn)擊“取消”則不保存本次修改并返回一般測試界面。

相關(guān)參數(shù)設(shè)置好了后長按“啟動(dòng)測試”單，進(jìn)入測試菜單。測試過程中電壓值一項(xiàng)是根據(jù)先前所選擇的測試電壓平滑上升至設(shè)置值后保持不變，然后自動(dòng)開始測試。開始測試后根據(jù)先前所選擇的測試頻率自動(dòng)變頻到各相應(yīng)的頻率進(jìn)行測試，測試完成后自動(dòng)顯示測試結(jié)果（如圖5—4）；測試結(jié)果自動(dòng)保存，可點(diǎn)擊“打印”按鈕打印本次測試結(jié)果。

注   意：每一種測試的具體參數(shù)設(shè)置和接線方法請(qǐng)查看第六章“參考接線” 。

絕緣電阻功能變頻介質(zhì)損耗測量裝置測量前準(zhǔn)備，操作規(guī)范1.3、CVT測試

首先根據(jù)相應(yīng)的接線提示接好儀器外部的連線，然后點(diǎn)擊主界面“CVT測試”選項(xiàng)，進(jìn)入下上等CVT測試菜單（如圖5—5）。然后可以點(diǎn)擊“參數(shù)設(shè)置”進(jìn)去設(shè)置菜單（如圖5—6）進(jìn)行詳細(xì)的測試參數(shù)設(shè)置。分別點(diǎn)擊每個(gè)需要設(shè)置的項(xiàng)目，按“增加”“減小”或“選擇”來修改。修改完成后點(diǎn)擊“保存”即可保存剛才所修改的參數(shù)并返回CVT測試界面，點(diǎn)擊“取消”則不保存本次修改并返回CVT測試界面。

相關(guān)參數(shù)設(shè)置好了后長按“啟動(dòng)測試”單，進(jìn)入測試菜單（如圖5—7）。測試過程中電壓值一項(xiàng)是根據(jù)先前所選擇的測試電壓平滑至設(shè)置值后保持不變，然后自動(dòng)開始測試。開始測試后根據(jù)先前所選擇的干擾頻率自動(dòng)變頻到相應(yīng)的頻率進(jìn)行測試，測試完成后自動(dòng)顯示測試結(jié)果（如圖5—8）。測試結(jié)果自動(dòng)保存，可點(diǎn)擊“打印”按鈕打印本次測試結(jié)果。

注    意：每一種測試的具體參數(shù)設(shè)置和接線方法請(qǐng)查看第六章“參考接線” 。

絕緣電阻功能變頻介質(zhì)損耗測量裝置測量前準(zhǔn)備，操作規(guī)范1.4、CVT變比測試

首先根據(jù)相應(yīng)的接線提示接好儀器外部的連線， 進(jìn)入CVT測試菜單在參數(shù)設(shè)置中選擇“CVT變比測試”，然后返回開始測試界面（如圖5—9），長按“啟動(dòng)測試”開始測量（如圖5—10），測試完成后自動(dòng)顯示測試結(jié)果（如圖5—11）。測試結(jié)果自動(dòng)保存，可點(diǎn)擊“打印”按鈕打印本次測試結(jié)果。  

絕緣電阻功能變頻介質(zhì)損耗測量裝置測量前準(zhǔn)備，操作規(guī)范1.5、正反同測

首先根據(jù)相應(yīng)的接線提示接好儀器外部的連線， 進(jìn)入正反同測菜單，在參數(shù)設(shè)置中選擇設(shè)置需要測試的高壓電壓，然后保存返回（如圖5—12），長按“啟動(dòng)測試”開始測量，測試完成后自動(dòng)顯示測試結(jié)果（如圖5—13）。測試結(jié)果自動(dòng)保存，可點(diǎn)擊“打印”按鈕打印本次測試結(jié)果。

1.6、LCR測試

首先根據(jù)相應(yīng)的接線提示接好儀器外部與被試品之間的連線，按照【正接法（常規(guī)接線）】或者【反接法（常規(guī)接線）】然后點(diǎn)擊主界面“LCR測試”選項(xiàng)，進(jìn)入下上等LCR測試菜單。

然后可以點(diǎn)擊“參數(shù)設(shè)置”進(jìn)去設(shè)置菜單進(jìn)行詳細(xì)的測試參數(shù)設(shè)置。分別點(diǎn)擊每個(gè)需要設(shè)置的項(xiàng)目，按“增加”“減小”或“選擇”來修改。修改完成后點(diǎn)擊“保存”即可保存剛才所修改的參數(shù)并返回一般測試界面，點(diǎn)擊“取消”則不保存本次修改并返回一般測試界面。長按“啟動(dòng)測試”開始測量，測試完成后自動(dòng)顯示測試結(jié)果（如圖5—14）。測試結(jié)果自動(dòng)保存，可點(diǎn)擊“打印”按鈕打印本次測試結(jié)果。

絕緣電阻功能變頻介質(zhì)損耗測量裝置測量前準(zhǔn)備，操作規(guī)范1.7、絕緣測試

首先根據(jù)相應(yīng)的接線提示接好儀器外部與被試品之間的連線，然后點(diǎn)擊主界面“絕緣測試”選項(xiàng)，進(jìn)入下上等絕緣測試菜單。然后可選擇測試方式為正接法或反接法，選擇合適的測試電壓。設(shè)置好相關(guān)參數(shù)之后即可點(diǎn)擊下方“極化指數(shù)”“吸收比”“絕緣電阻”進(jìn)行測試。

1.8、數(shù)據(jù)查詢

在主菜單點(diǎn)擊“數(shù)據(jù)管理”進(jìn)入數(shù)據(jù)管理界面（如圖5—16），點(diǎn)擊“數(shù)據(jù)查詢”進(jìn)入。進(jìn)入數(shù)據(jù)存放菜單（如圖5—17）后，按上、下鍵移動(dòng)光標(biāo)至想要查看的數(shù)據(jù)項(xiàng)目上，（儀器所保存的數(shù)據(jù)均是按照測量時(shí)間的先后所排列的，第000個(gè)數(shù)據(jù)即*新數(shù)據(jù)，第199個(gè)數(shù)據(jù)即*老數(shù)據(jù)。）再點(diǎn)擊相應(yīng)的數(shù)據(jù)，進(jìn)入數(shù)據(jù)打印項(xiàng)目，在此菜單里面可以按上，下鍵翻頁至相應(yīng)的數(shù)據(jù)序號(hào)上，可對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行打印操作。

1.9、參數(shù)設(shè)置

打開儀器后直接點(diǎn)擊“參數(shù)設(shè)置”進(jìn)入時(shí)間設(shè)置界面。進(jìn)入時(shí)間菜單（如圖5—18）后，點(diǎn)擊想要修改的時(shí)間數(shù)據(jù)項(xiàng)目上，然后再按增加、減小鍵調(diào)整相應(yīng)的“時(shí)” 、“分” 、“秒” ，*后點(diǎn)擊保存修改時(shí)間設(shè)置，點(diǎn)擊取消退出設(shè)置并返回主界面。

※ 注：

所有圖片并非實(shí)物的全部描敘，請(qǐng)以實(shí)際儀器界面為主，僅做參考。

所有步驟在設(shè)置不當(dāng)或想再次改變的情況下，均可按取消鍵返回上一步驟，如果按取消鍵不能實(shí)現(xiàn)返回。則可以直接按復(fù)位鍵退到主菜單重新開始設(shè)置。

二、參考接線

（具體請(qǐng)參閱相關(guān)規(guī)程）

1、正接法

1、內(nèi)電壓—內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)—正接法（電容常規(guī)接線）

2、內(nèi)電壓—正接法（絕緣電阻接線）

3、內(nèi)電壓—外標(biāo)準(zhǔn)—正接法（必須先設(shè)置好外接標(biāo)準(zhǔn)容量）

4、外電壓—內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)—正接法

5、外電壓—外標(biāo)準(zhǔn)—正接法（必須先設(shè)置好外標(biāo)準(zhǔn)容量） 

2、反接法

1、內(nèi)電壓—內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)—反接法（常規(guī)接線）

2、內(nèi)電壓—外標(biāo)準(zhǔn)—反接法（必須先設(shè)置好外標(biāo)準(zhǔn)容量）

3、外電壓—內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)—反接法

4、外電壓—外標(biāo)準(zhǔn)—反接法（必須先設(shè)置好外標(biāo)準(zhǔn)容量）

3、CVT測試(注意：CVT測試時(shí)高壓線應(yīng)懸空不能接觸地面，否則其對(duì)地附加介損會(huì)引起誤差。)

1、CVT同時(shí)測試

（一次完成測試）

2、CVT分別測試

（普通測試）

3、不拆高壓引線測試CVT電容值和介損測量模式：CVT自激法。電壓≤ 2kV

4、反接屏蔽法測量CVT上端C0的電容值和介損測量模式：反接法。電壓≤2kV

4、CVT變比測試

5、正反同測

三繞組變壓器CHG+CHL（高壓線屏蔽接T繞組）

三繞組變壓器CLG+CLT（高壓線屏蔽接HV繞組）

三繞組變壓器CTG+CHT（高壓線屏蔽接LV繞組）

數(shù)據(jù)采集電路全部采用高壓穩(wěn)定器件，采集板和采集計(jì)算機(jī)被鐵盒完全浮空屏蔽，儀器外殼地屏蔽；另外使用了光導(dǎo)數(shù)據(jù)、浮空地、大面積地、單點(diǎn)地、數(shù)字濾波等抗干擾技術(shù)，加之計(jì)算機(jī)對(duì)數(shù)百個(gè)電網(wǎng)周期的數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，使測量結(jié)果穩(wěn)定、精準(zhǔn)、可靠。變頻抗干擾介質(zhì)損耗測試儀用于現(xiàn)場抗干擾介損測量，或試驗(yàn)室精密介損測量。儀器為一體化結(jié)構(gòu)，內(nèi)置介損電橋、變頻電源、試驗(yàn)變壓器和標(biāo)準(zhǔn)電容器等。具有外接標(biāo)準(zhǔn)電容器接口，可外接油杯做精密絕緣油介損試驗(yàn)，可外接固體材料測量電極做精密絕緣材料介損試驗(yàn)，也可外接高壓標(biāo)準(zhǔn)電容器做高電壓介損試驗(yàn)。采用變頻抗干擾和傅立葉變換數(shù)字濾波技術(shù)，全自動(dòng)智能化測量，強(qiáng)干擾下測量數(shù)據(jù)穩(wěn)定。測量結(jié)果由大屏幕液晶顯示，自帶微型打印機(jī)可打印輸出。

介質(zhì)損耗測試儀測量前準(zhǔn)備，操作規(guī)范：

1：用接地線一端接儀器的接地柱，另一端接可靠的大地，保證儀器外殼處在地電位上。

2：正接線時(shí)：將高壓電纜插頭插入后門HV插座中，中試控股將另一端的紅色大鉗子夾到被測試品的引線上，黑色小鉗子懸空或夾在紅色大鉗子上。將CX低壓電纜插入CX插座中，另一端的紅色夾子夾試品的低端，黑色夾子懸空或接屏蔽裝置。

3：反接線時(shí)：中試控股將高壓電纜插頭插入后門HV插座中，將另一端的紅色大鉗子夾到被測試品的引線上，紅色小鉗子懸空或接屏蔽裝置。Cx插座不用。

我們生活中日常用的電，前期有很大的工程在里面，而這些工程項(xiàng)目的完成也需很多的儀器輔助完成，節(jié)約時(shí)間，減少人力成本，就比如常見的絕緣電阻功能變頻介質(zhì)損耗測量裝置，試驗(yàn)單位這里就需要用到絕緣電阻功能變頻介質(zhì)損耗測量裝置，很多單位不一定 有這樣的儀器儲(chǔ)備，這時(shí)候就需要尋找國內(nèi)真正做絕緣電阻功能變頻介質(zhì)損耗測量裝置設(shè)備的廠家采購，要想找到國內(nèi)真正做絕緣電阻功能變頻介質(zhì)損耗測量裝置設(shè)備的廠家是需要費(fèi)一番周折的。那么，在國內(nèi)真正做絕緣電阻功能變頻介質(zhì)損耗測量裝置設(shè)備的廠家還是比較分散的，上海來揚(yáng)電氣極其注重絕緣電阻功能變頻介質(zhì)損耗測量裝置使用時(shí)的體驗(yàn)度和功能上的要求，追求質(zhì)量的保證，嚴(yán)格要求產(chǎn)品質(zhì)量得到保障，適應(yīng)年限達(dá)到保修期，維修時(shí)方便快捷。

所以，很多客戶找國內(nèi)真正做絕緣電阻功能變頻介質(zhì)損耗測量裝置設(shè)備的廠家大家都會(huì)想到上海來揚(yáng)，口碑一直都很不錯(cuò)，生產(chǎn)車間隨時(shí)恭候考察，做到真的信任和溝通。